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Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden
Author/Publ.: Rauer, MiriamOrt: Erlangen
Publisher: FAU University Press
Year: 2018
Physical Details: xii, 209 Seiten
ISBN: 9783961471577
Subject: Verbindungstechnik / Lötverbindung / Lumineszenzdiode / Lastwechselverhalten / Weichlot / Rissbildung / Finite-Elemente-Methode / Computertomografie / Bleifreies Produkt
Subject: Zuverlässigkeit / Pore
Dies ist ein Open Access-Titel.
| Author/Publ.: |
Rauer, Miriam
|
|---|---|
| Title: | Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden |
| Nebentitel: | The influence of voids on the reliability of solder joints of high power LEDs |
| Ort: | Erlangen |
| Publisher: | FAU University Press |
| Year: | 2018 |
| Physical Details: |
xii, 209 Seiten |
| Details: |
Illustrationen, Diagramme |
| ISBN: | 9783961471577 |
| Series: | FAU Studien aus dem Maschinenbau |
| Volume: | Band 313 |
| Dissertation note: | Dissertation, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2018 |
| Dissertation note: | Dissertation |
| Name of granting institution: | Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg |
| Year: | 2018 |
| Subject: |
Verbindungstechnik ;
Lötverbindung ;
Lumineszenzdiode ;
Lastwechselverhalten ;
Weichlot ;
Rissbildung ;
Finite-Elemente-Methode ;
Computertomografie ;
Bleifreies Produkt Zuverlässigkeit ; Pore |
| Content Type: | Hochschulschrift |
| RVK-Notation: | |
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| RVK-Notation: | |
| RVK-Notation: | |
| Fulltext: | https://open.fau.de/handle/openfau/10474 |
| Fulltext: | https://doi.org/10.25593/978-3-96147-157-7 |
| Fulltext: | https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749 |
| Fulltext: | http://d-nb.info/1178794369/34 |
| B3Kat-ID: | BV045486788 |
| Produktsigel: | ebook |
