Katalog WÜ-SW-AB-CO (1/1)

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Soft Error Reliability of VLSI Circuits Analysis and Mitigation Techniques

Autor/Hrsg.: Ghavami, Behnam , Raji, Mohsen
Ausgabe: 1st ed. 2021
Ort: Cham
Verlag: Springer International Publishing
Jahr: 2021
Umfang: 1 Online-Ressource (XIII, 114 p. 39 illus., 9 illus. in color)
ISBN: 9783030516109

Zugriff vom Campus der HS Würzburg-Schweinfurt, der TH Aschaffenburg, der HS Coburg

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Autor/Hrsg.:	Ghavami, Behnam
Autor/Hrsg.:	Raji, Mohsen
Titel:	Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Untertitel:	Analysis and Mitigation Techniques
Ausgabe:	1st ed. 2021
Ort:	Cham
Ort:	Cham
Verlag:	Springer International Publishing
Verlag:	Springer
Jahr:	2021
Umfang:	1 Online-Ressource (XIII, 114 p. 39 illus., 9 illus. in color)
ISBN:	9783030516109
Subject:	Electronic circuits Electronics Microelectronics Computer engineering Internet of things Embedded computer systems
E-Book TH Aschaffenburg:	https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9
E-Book HS Coburg:	https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9
Volltext :	https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9
Bestand Bayern:	BV046975067
Produktsigel:	ZDB-2-ENG

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