Katalog WÜ-SW-AB-CO (1/1)

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Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit Maßnahmen der nächsten Generation unter Verwendung formaler Techniken

Autor/Hrsg.: Huhn, Sebastian , Drechsler, Rolf
Ort: Cham
Verlag: Springer International Publishing
Jahr: 2023
Umfang: 1 Online-Ressource (XXI, 180 Seiten)
ISBN: 9783031453199

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Autor/Hrsg.:	Huhn, Sebastian
Autor/Hrsg.:	Drechsler, Rolf
Titel:	Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit
Untertitel:	Maßnahmen der nächsten Generation unter Verwendung formaler Techniken
Ort:	Cham
Ort:	Cham
Verlag:	Springer International Publishing
Verlag:	Springer Vieweg
Jahr:	2023
Umfang:	1 Online-Ressource (XXI, 180 Seiten)
ISBN:	9783031453199
Subject:	Embedded computer systems Electronic circuit design Microprocessors Computer architecture
E-Book TH Aschaffenburg:	https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9
E-Book HS Coburg:	https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9
Volltext :	https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9
Bestand Bayern:	BV049527650
Produktsigel:	ZDB-2-STI